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光學(xué)元件激光損傷檢測及預(yù)處理設(shè)備
產(chǎn)品介紹
光學(xué)元件激光損傷檢測及預(yù)處理設(shè)備(LDT-2000-C)，主要用于測試光學(xué)元件的激光損傷閾值以保證放置于光路中的各類光學(xué)元件的強激光負載性能，應(yīng)用范圍包括光學(xué)元件激光損傷測試、體材料激光損傷測試鍍膜工藝優(yōu)化等。
| 光學(xué)元件激光損傷檢測及預(yù)處理設(shè)備 | |
| 型號 | LDT-2000-C |
| 測量波長 | 193nm、355nm、532nm、1064nm或其他客戶定制波長 |
| 激光脈寬 | ~10ns |
| 最大測試激光通量 | ≥100J/cm² |
| 損傷點識別率 | ≥95% |
| 樣品尺寸 | ≤150mm x 150mm(L x W)或客戶定制 |
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