光學(xué)元件缺陷檢測(cè)設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備
01
多光譜智能透鏡外觀檢測(cè)儀
多光譜智能透鏡外觀檢測(cè)儀(AOSI-4000S),主要用于光學(xué)透鏡的全自動(dòng)外觀質(zhì)量檢測(cè),該設(shè)備自動(dòng)化程度高、批量上料、自動(dòng)傳送、智能檢測(cè),根據(jù)檢測(cè)結(jié)果智能分選,并生成每個(gè)元件的檢測(cè)報(bào)告。 設(shè)備可生成檢測(cè)日志,按照不同的時(shí)間周期,根據(jù)元件檢測(cè)數(shù)量、缺陷檢測(cè)類型比例等條件生成檢測(cè)日志觀察生產(chǎn)良率變化,對(duì)生產(chǎn)工藝改進(jìn)做出指導(dǎo)。
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02
半自動(dòng)智能透鏡外觀檢測(cè)儀
半自動(dòng)智能透鏡外觀檢測(cè)儀(OSI-4000S),主要用于光學(xué)透鏡的外觀質(zhì)量檢測(cè),具有整盤上下料、自動(dòng)檢測(cè)、標(biāo)準(zhǔn)選擇或自定義、自動(dòng)判斷OK/NG、結(jié)果輸出等功能。設(shè)備配備特殊設(shè)計(jì)的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),針對(duì)透鏡元件復(fù)雜多變的面型和鍍膜工藝,高靈敏度的檢出包括劃痕麻點(diǎn)在內(nèi)的各類外觀缺陷,相比人工具備可靠的穩(wěn)定性和重復(fù)性。
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03
平面元件缺陷檢測(cè)設(shè)備
平面元件缺陷檢測(cè)設(shè)備(AOSI-4000F),主要用于平面光學(xué)元件的全自動(dòng)外觀質(zhì)量檢測(cè),該設(shè)備自動(dòng)化程度高、批量上料、自動(dòng)傳送、智能檢測(cè),根據(jù)檢測(cè)結(jié)果智能分選,并生成每個(gè)元件的檢測(cè)報(bào)告。 設(shè)備可生成檢測(cè)日志,按照不同的時(shí)問周期,根據(jù)元件檢測(cè)數(shù)量、缺陷檢測(cè)類型比例等條件生成檢測(cè)日志觀察生產(chǎn)良率變化,對(duì)生產(chǎn)工藝改進(jìn)做出指導(dǎo)。
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04
激光共聚焦顯微鏡
激光共聚焦顯微鏡(LCM-2000),具備光學(xué)顯微成像與激光共聚焦成像雙重檢測(cè)模式,主要用于各類材料的表面形貌與表面缺陷的三維檢測(cè)分析。
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05
光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(標(biāo)準(zhǔn)版)
光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(標(biāo)準(zhǔn)版),專為薄膜、晶體、熔石英玻璃等光學(xué)材料和元件設(shè)計(jì),用于表面和體吸收特性的精密測(cè)量分析。
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06
光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(簡(jiǎn)化版)
光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(簡(jiǎn)化版)專為薄膜、晶體、熔石英玻璃等光學(xué)材料和元件設(shè)計(jì),用于表面和體吸收特性的精密測(cè)量分析。
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07
光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備
光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備(LDT-2000-C),主要用于測(cè)試光學(xué)元件的激光損傷閾值以保證放置于光路中的各類光學(xué)元件的強(qiáng)激光負(fù)載性能,應(yīng)用范圍包括光學(xué)元件激光損傷測(cè)試、體材料激光損傷測(cè)試鍍膜工藝優(yōu)化等。
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