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大口徑元件吸收缺陷檢測儀

產(chǎn)品介紹

大口徑元件吸收缺陷檢測儀(PTM-2000-LA),基于光熱掃描顯微成像技術(shù),適用于各類大口徑固體表面及亞表面缺陷的檢測和分析,特別是各類大口徑光學薄膜、光學元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測和分析。本系統(tǒng)是一款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器,可根據(jù)用戶具體需求進行紫外、可見或紅外波段的精密檢測和分析。

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產(chǎn)品參數(shù)
大口徑元件吸收缺陷檢測儀
型號 PTM-2000-LA
檢測靈敏度 ≤10ppb
檢測波長 355nm、532nm、1064nm或定制波長
空間分辨率 ≤10um
樣品尺寸 ≤500mm x 500mm ( L x W )或客戶訂制
光學顯微成像系統(tǒng)分辨率(可選配) ≤1um

*注:可根據(jù)用戶需求提供同類特制儀器和相關(guān)測試的解決方案。

產(chǎn)品特點

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